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Spektroskopie
- Schematische Darstellung des Strahlengangs
- © Scharfenorth
Spektrometer Lambda 19
Fa. Perkin Ellmer
- Range: 300 nm – 2000 nm
- Auflösung: 0,1 nm
External Cavity Laser (ECL)
Fa. Agilent
- Range: 1520 nm – 1630 nm
- Auflösung: 0,1 pm
Superlumineszenz Dioden (SLED)
Fa. DenseLight
- Range: 1300 nm – 1700 nm
- Leistung: 10 mW
Optical Sectrum Analyzer (OSA)
Fa. Hewlett Packard
- Range: 600 nm – 1700 nm
- Auflösung: 0,08 nm
Topographie & Materialanalyse
- AFM-Scan einer Polymerschicht auf der Endfläche einer optischen Faser
- © Schweda
AFM NanoR
Fa. Pacific Nanotechnology
- max. Querschnitt: 80µm
- Auflösung: 250pm
- Contact- und Non-Contact mode
- Topographie, Rauigkeit
- SEM-Aufnahme einer 500 nm dicken Goldschicht
- © ZELMI
Rasterelektronenmikroskope (SEM)
Röntgenanalyse (EDX)
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
extern an der ZELMI
- SEM Imaging
- Auflösung bis zu 2 nm (SEM)
- Auflösung bis zu 0,24 nm (TEM)
- Röntgenanalyse qualitativ und quantitativ