Inhalt des Dokuments
Quantitative analysis of electrostatic potentials in GaN pn-junctions using off-axis electron holography
J. B. Park, T. Niermann, A. Knauer, M. Weyers, M. Kneissl, M. Lehmann
Quantitative analysis of electrostatic potentials in GaN pn-junctions using off-axis electron holography
Proc. MC2011 (2011), Vol. 3
Double-biprism holography in an 80-300 kV transmission electron microscope
F. Genz, T. Niermann, B. Buijsse, B. Freitag, M. Lehmann
Double-biprism holography in an 80-300 kV transmission electron microscope
Proc. MC2011 (2011), Vol. 1
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Prof. Dr. Michael Lehmann
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