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Hitachi SU8030 SEM
The Hitachi high-resolution scanning electron microscope (SEM) is the ultimate instrument for surface analysis. It bridges the gap between conventional SEMs and TEMs with its excellent specification:
- 1 nm ultra high-resolution SEM
- cold field emitter
- triple-detection-system with ExB filter
- STEM and EDX detectors
- low kV and deceleration function
- 3step antikontamination.
This state-of-the-art instrument is operated by ZELMI.
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