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TU Berlin

Inhalt des Dokuments

Kurs B: Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop

Wegen großer Nachfrage wird ein zusätzlicher Kurs angeboten - ausgebucht

Dozenten: Prof. Dr. M. Lehmann, Dr. D. Berger
Institution: TU Berlin, Institut für Optik und Atomare Physik und Zentraleinrichtung für Elektronenmikroskopie ZELMI

Wann: 03.09.-07.09.2012
Wo: Technische Universität Berlin, 10623 Berlin – Charlottenburg


Kurzinhalt:
- Transmissionselektronenmikroskopie (TEM): Kontrastverfahren, atomare Abbildung, Cs-Korrektur, Elektronenholographie, Analytische TEM
- Rasterelektronenmikroskopie (SEM): Oberflächenabbildung, Detektoren, quantitative Analytik
- Elektronenstrahlmikrosonde (EPMA): Kristallspektrometer, hochpräzise quantitative Analytik
- Probenpräparation für TEM und SEM
- Praktika an TEM, SEM und EPMA, Übungen

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Anfragen/Anmeldung

Daniela Zengler
030/314-28669
Ernst-Ruska-Gebäude
Raum ER 297